MikroMasch探針

光纖光譜儀,積分球,均勻光源,太赫茲系統(tǒng)應(yīng)用專家
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濾光片
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石墨烯納米材料
 石墨烯納米材料
 

 

MikroMasch
原子力顯微鏡(AFM)探針
掃描探針顯微鏡(SPM)探針
Porous Aluminium 多孔鋁
HOPG 高定向熱解石墨
Test Structure

 

(Valid from 18 April 2011. Subject to change without notice)

 
Description
Part Number
Shipping unit
Price, EUR
High Resolution
1 Hi'RES-C Probes,
1 lever
HI'RES-C/14/AlBS
HI'RES-C/15/AlBS
HI'RES-C/16/AlBS
HI'RES-C/17/AlBS
HI'RES-C/18/AlBS
HI'RES-C/19/AlBS
5 chips 400
15 chips 900
1' Hi'RES-W Probes,
1 lever
HI'RES-W/14/AlBS
HI'RES-W/15/AlBS
HI'RES-W/16/AlBS
HI'RES-W/18/AlBS
5 chips 400
15 chips 900
Conductive Probes
2 DPER Probes
High Resolution
in Electrical
Measurements
DPER14
DPER15
DPER16
DPER17
DPER18
15 chips 450
50 chips 1150
3 DPE Probes
Low Noise
in Electrical
Measurements
DPE14
DPE15
DPE16
DPE17
DPE18
15 chips 450
50 chips 1150
4 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Pt/no Al
NSC15/Pt/no Al
NSC16/Pt/no Al
CSC17/Pt/no Al
NSC18/Pt/no Al
NSC19/Pt/no Al
15 chips 360
50 chips 900
5 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Pt/AlBS
NSC21/Pt/AlBS
CSC11/Pt/AlBS
CSC21/Pt/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
6 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Pt/no Al
NSC21/Pt/no Al
CSC11/Pt/no Al
CSC21/Pt/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
7 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC35/Pt/AlBS
NSC36/Pt/AlBS
CSC37/Pt/AlBS
CSC38/Pt/AlBS
15 chips 360
50 chips 900
8 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC35/Pt/no Al
NSC36/Pt/no Al
CSC37/Pt/no Al
CSC381/Pt/no Al
15 chips 360
50 chips 900
9 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/Cr-Au
NSC15/Cr-Au
NSC16/Cr-Au
CSC17/Cr-Au
NSC18/Cr-Au
NSC19/Cr-Au
15 chips 360
50 chips 900
10 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Cr-Au
NSC21/Cr-Au
CSC11/Cr-Au
CSC21/Cr-Au
15 chips 390
50 chips 1000
11 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Cr-Au
NSC36/Cr-Au
CSC37/Cr-Au
CSC38/Cr-Au
15 chips 360
50 chips 900
Magnetic Probes
12 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/Co-Cr
NSC18/Co-Cr
NSC19/Co-Cr
15 chips 390
50 chips 1000
13 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Co-Cr
NSC36/Co-Cr
15 chips 390
50 chips 1000
Standard silicon Probes
14 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/AlBS
NSC15/AlBS
NSC16/AlBS
CSC17/AlBS
NSC18/AlBS
NSC19/AlBS
15 chips 300
50 chips 850
15 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/no Al
NSC15/no Al
NSC16/no Al
CSC17/no Al
NSC18/no Al
NSC19/no Al
15 chips 300
50 chips 850
16 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/AlBS
NSC21/AlBS
CSC11/AlBS
CSC21/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
17 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/no Al
NSC21/no Al
CSC11/no Al
CSC21/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
18 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/AlBS
NSC36/AlBS
CSC37/AlBS
CSC38/AlBS
15 chips 300
50 chips 850
19 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/no Al
NSC36/no Al
CSC37/no Al
CSC38/no Al
15 chips 300
50 chips 850
Silicon probes, Force Constant calibrated Cantilevers
20 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/F/AlBS
NSC15/F/AlBS
NSC16/F/AlBS
CSC17/F/AlBS
NSC18/F/AlBS
NSC19/F/AlBS
5 chips 200
Long Scanning
21 LS Probes,
1 lever
DP14/LS/AlBS
DP15/LS/AlBS
DP16/LS/AlBS
DP17/LS/AlBS
DP18/LS/AlBS
DP19/LS/AlBS
15 chips 300
50 chips 900
Standard silicon Probes with Si3N4 coating
22 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Si3N4/AlBS
NSC15/Si3N4/AlBS
NSC16/Si3N4/AlBS
CSC17/Si3N4/AlBS
NSC18/Si3N4/AlBS
NSC19/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
23 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Si3N4/no Al
NSC15/Si3N4/no Al
NSC16/Si3N4/no Al
CSC17/Si3N4/no Al
NSC18/Si3N4/no Al
NSC19/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
24 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Si3N4/AlBS
NSC21/Si3N4/AlBS
CSC11/Si3N4/AlBS
CSC21/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
25 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Si3N4/no Al
NSC21/Si3N4/no Al
CSC11/Si3N4/no Al
CSC21/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
26 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Si3N4/AlBS
NSC36/Si3N4/AlBS
CSC37/si3N4/AlBS
CSC38/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
27 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/si3N4/no Al
NSC36/Si3N4/no Al
CSC37/Si3N4/no Al
CSC38/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
Torsional cantilever
28 TL Probes,
1 lever
TL01/AlBS
TL02/AlBS
5 chips
15 chips
50 chips
225
600
1700
TL01/no Al
TL02/no Al
5 chips
15 chips
50 chips
225
600
1700
Tipless cantilever
29 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC12/tipless/AlBS
CSC12/tipless/AlBS
15 chips
50 chips
300
850
NSC12/tipless/no Al
CSC12/tipless/no Al
15 chips
50 chips
300
850
NSC12/tipless/Cr-Au
CSC12/tipless/Cr-Au
15 chips
50 chips
360
900


 

Porous Aluminium
30 Porous Aluminium PA01 1 200

HOPG
31 HOPG
mosaic spread
3.5 +/- 0,5
ZYH + DS/1 mm
ZYH + DS/1,75 mm
ZYH + DS/2 mm
5 240
330
360
32 HOPG
mosaic spread
1.5 +/- 0,3
ZYD + SS/1 mm
ZYD + SS/1,5 mm
ZYD + SS/2 mm
ZYD + DS/1 mm
ZYD + DS/2 mm
3 144
180
216
276
420
33 HOPG
mosaic spread
0.8 +/- 0,2
ZYB + SS/1,5 mm
ZYB + DS/1 mm
ZYB + DS/2 mm
1 100
120
240
34 HOPG
mosaic spread
0.4 +/- 0,1
ZYA + DS/1 mm
ZYA + DS/2 mm
1 468
700
Test Structure
35 TGZ
Vertical Calibration
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGZ04
TGZ11
1 100
36 TGZ
NIST traceable
TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
1 250
37  TGX
Lateral Calibration
TGX01
TGX11
1 200
38  TGG
Grating with
Triangular Steps
TGG01 1 200
39  TGF
Grating with
Trapezoidal Steps
TGF11 1 200
Test Structure Sets
40 TGS01
Set of 3 gratings
TGZ01
TGZ02
TGZ03
1 200
41 TGS01C
Set of 3 gratings
NIST traceable
TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
1 650
42 TGS02
Set of 6 gratings
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
1 500
43 TS02C
Set of 6 gratings,
3 gratings
NIST traceable
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
1 950
44 TGS03
Set of 3 gratings
TGG01
TGX01
PA01
1 400

您可以訪問(wèn)MikroMasch公司網(wǎng)站了解更多: www.spmtips.com

 

 

高定向熱解石墨(HOPG)

介紹
HOPG是一種新型高純度碳,為顯微分析人員提供了一種可重復(fù)使用的平滑表面。與云母不同的是,HOPG完全無(wú)極性適用于元素分析,并且分析信號(hào)中僅有碳原子背景信號(hào)。HOPG優(yōu)良的表面光滑性使其可以作為空白背景,除非分辨率達(dá)到原子級(jí)水平。在HOPG發(fā)現(xiàn)之初,其被稱為“初生石墨”。請(qǐng)不要將SPI Supplies的HOPG和玻璃態(tài)碳相混淆。

特性:

薄層狀結(jié)構(gòu)
Gr普通石墨和特殊HOPG均系薄層狀結(jié)構(gòu),就像云母、二硫化鉬及其他分層物質(zhì)一樣,由平的堆積層組成。所有這些薄層狀的物質(zhì),其平面比層與層之間承受更大的力量,這也說(shuō)明了這樣的物質(zhì)容易劈開的特征。

開裂特性- HOPG具有層狀結(jié)構(gòu),會(huì)像云母一樣開裂。通常的方法是先用一條膠帶(如3M “Scotch Brand”雙面膠)粘在HOPG的表面上,然后將其撕下,膠帶上就會(huì)粘有一層薄薄的HOPG。新裂表層可以用作樣本基底材料。那么每個(gè)樣本上會(huì)有多少裂片呢?這很難講清楚。對(duì)于好的HOPG(如SPI-1或ZYA),每2mm厚的區(qū)域中大概含有20到40個(gè)裂片。我們無(wú)法保證裂片的確切數(shù)量,但如果您愿意與我們分享您寶貴的工作經(jīng)驗(yàn),我們會(huì)席耳恭聽(tīng)的。HOPG的等級(jí)越低,每2mm厚的區(qū)域中裂片數(shù)量就越少,但具體有多少我們也無(wú)法準(zhǔn)確預(yù)測(cè)出。

基面圖像-用原子級(jí)分辨率的掃描隧道顯微鏡拍攝HOPG的結(jié)構(gòu)圖像,會(huì)得到兩種圖像。通常觀測(cè)到的是一個(gè)緊密排列矩陣的圖像;在此矩陣中,每個(gè)原子被六個(gè)相鄰原子包圍,任意兩個(gè)原子間距為0.246nm。在理想條件下,特別是探針頭真正為單原子時(shí),您將看到石墨的六邊形“鐵絲網(wǎng)”結(jié)構(gòu);其中,原子的中心間距為0.1415nm。這個(gè)距離是碳原子的基本屬性,與石墨等級(jí)無(wú)關(guān)。多數(shù)情況下對(duì)HOPG的基面進(jìn)行觀察時(shí),圖像就是此種緊密排列的矩陣。

用作石墨單色器:據(jù)報(bào)告,SPI Supplies提供的HOPG(尤其是SPI-1和ZYA級(jí)的)比任何其它物質(zhì)都能更有效地進(jìn)行X射線和中子的衍射。例如對(duì)X射線來(lái)說(shuō),使用HOPG其強(qiáng)度是使用氟化鋰晶體的5倍。使用好的HOPG的單偏轉(zhuǎn)聚焦單色器,產(chǎn)生的馬賽克擴(kuò)散小,其亮度是同分辨率氟化鋰單色器的3倍。

平整度/粗糙度- HOPG具有多晶結(jié)構(gòu),其尺寸大小不一。好的HOPG,其晶體可達(dá)10mm。新裂表層由多大幾個(gè)至十幾個(gè)的0.2-0.3nm的原子梯級(jí)組成。HOPG質(zhì)量越好,表面粗糙度越小,新裂表層原子梯級(jí)數(shù)越少。

馬賽克擴(kuò)散- 此項(xiàng)指標(biāo)用于衡量HOPG的定向度。馬賽克擴(kuò)散越小,HOPG定向度越高,從而裂片表面呈現(xiàn)的梯級(jí)越少。馬賽克擴(kuò)散越低,HOPG價(jià)格越高,但其可分裂性越好,產(chǎn)生的裂片相應(yīng)越多,這在某種程度上提高了材料的性價(jià)比。

柱狀結(jié)構(gòu):
柱狀結(jié)構(gòu)在材料平板內(nèi)部呈垂直分布,在側(cè)表面可以看到顆粒邊界。換言之,馬賽克擴(kuò)散沿顆粒邊界偏離柱狀結(jié)構(gòu)正交軸的角度進(jìn)行。

高溫中使用
越來(lái)越多的科研領(lǐng)域需要使用HOPG,越來(lái)越多的場(chǎng)合需要良好的耐高溫特性。以下信息可能會(huì)對(duì)您有所幫助:

  • 空氣中: > 500°C/932°F (開始燃燒)
  • 0.1托真空中: > 2500°C/4532°F
  • 惰性環(huán)境中(N, Ar, He) > 3500°C/6332°F

z軸校準(zhǔn):
對(duì)HOPG裂片表面凹凸部分的高度沒(méi)有進(jìn)行過(guò)校準(zhǔn)。然而,晶體表面具有固定的結(jié)構(gòu),單階高度為0.34nm。由于進(jìn)行了分裂處理,您會(huì)很容易地發(fā)現(xiàn)梯級(jí)結(jié)構(gòu)。另一種方法是置于烘箱中,通過(guò)氧化作用在表面產(chǎn)生蝕刻坑。

高純度- 兩種品牌所有等級(jí)的HOPG都具有較高的純度,雜質(zhì)含量在10ppm級(jí)或更低。

化學(xué)穩(wěn)定性:
HOPG對(duì)包括四氧化鋨在內(nèi)的所有化學(xué)物質(zhì)都具有較高的化學(xué)穩(wěn)定性。然而,當(dāng)其置于SPI Supplies Plasma Prep II等離子蝕刻機(jī)產(chǎn)生的氧等離子體中時(shí),HOPG會(huì)迅速消失。

導(dǎo)熱性:
由于HOPG各向異性的特點(diǎn),不同方向上其導(dǎo)熱性也不同。熱導(dǎo)率沿基面方向?yàn)?800Wt/C,沿垂直基面方向?yàn)?-10Wt/C。任何類型的HOPG,其熱導(dǎo)率都比較高。導(dǎo)熱鱗片與其它HOPG有相同

 


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